Zhv2.0 સંપૂર્ણ સ્વચાલિત માઇક્રો વિકર્સ અને નોપ સખ્તાઇ પરીક્ષક

આ સાધનનો ઉપયોગ ધાતુશાસ્ત્ર, ઇલેક્ટ્રો-મિકેનિક્સ અને ઘાટ, વગેરે જેવા ક્ષેત્રોમાં થાય છે. તે નમૂના અથવા સપાટી સખત સ્તરોના કઠિનતા મૂલ્યનું વિશ્લેષણ અને માપી શકે છે, તેથી તે મિકેનિક્સ મશીનિંગ અથવા ઉચ્ચ ચોકસાઇના ભાગોના માપદંડમાં વિશ્લેષણ અને પરીક્ષણ માટે એકદમ અનિવાર્ય સાધન છે.

કમ્પ્યુટર સાથે કનેક્ટ થવા માટે આરએસ 232 ઇન્ટરફેસના માધ્યમથી, પસંદ કરેલા વિવિધ પગલાની લંબાઈ સાથે એક્સ અક્ષ અને વાય અક્ષને ખસેડો, નમૂનાના કાર્બ્યુરાઇઝ્ડ સ્તરની કઠિનતા મૂલ્ય અથવા કઠણ સ્તરની depth ંડાઈને માપવા માટે સાધન ખાસ ફિટ છે.

વિવિધ લોડ્સ સાથે લાગુ કરવાથી, વિવિધ પ્રકારના નમુનાઓનું પરીક્ષણ કરી શકાય છે. અને તે ગ્રાફ-ટેક્સ્ટ રિપોર્ટ્સ બનાવી અને સ્ટોર કરી શકે છે. તે સંચાલિત કરવું સરળ છે અને ગ્રાહકો માટે વાપરવા માટે સરળ છે.

આ સ software ફ્ટવેર આ રીતે સખ્તાઇ ટેસ્ટરની આવી કામગીરીને નિયંત્રિત કરી શકે છે: મોટરચાલિત સંઘાડો, પ્રકાશ લ્યુમિનોસિટી, રહેઠાણનો સમય, લોડિંગ ટેબલની ગતિ, લોડિંગની એપ્લિકેશન અને સ્વચાલિત ધ્યાન કેન્દ્રિત કરવા વગેરે, તે પીસી કમ્પ્યુટરને આદેશ સાથે સખ્તાઇના પરીક્ષકને પણ નિયંત્રિત કરવા માટે સક્ષમ કરી શકે છે.

તે જ સમયે, કઠિનતા પરીક્ષક એક્ઝેક્યુટ કરેલા આદેશની માહિતીને પ્રતિસાદ આપી શકે છે. તે બધા કનેક્ટિંગ એકમોને એકબીજા સાથે વાતચીત કરવા માટે સક્ષમ કરે છે.

મૈત્રીપૂર્ણ વપરાશકર્તા ઇન્ટરફેસ, માનવીકરણ, સ્થિરતા, વિશ્વસનીયતા અને મિકેનિક્સની ખૂબ prec ંચી ચોકસાઇ સ્થિતિ સાથે, આ સ software ફ્ટવેર પરીક્ષણ આવશ્યકતાઓની જરૂરિયાતોને સંપૂર્ણપણે પૂર્ણ કરશે.

આ સાધન ફક્ત વિકર્સ સખ્તાઇના ઇન્ડેન્ટેશનના સિંગલ-પોઇન્ટનું પરીક્ષણ કરી શકતું નથી, પરંતુ આપમેળે લોડિંગ પછી વિકર્સ સખ્તાઇના ઇન્ડેન્ટેશનના સતત મલ્ટિ-પોઇન્ટનું પરીક્ષણ પણ કરી શકે છે.

અને તે સખ્તાઇના વિતરણની વળાંક પણ બનાવી શકે છે. આ વળાંક મુજબ, સખત સ્તરની depth ંડાઈની ગણતરી કરી શકાય છે.

બધા માપન ડેટા, ગણતરીના પરિણામો અને ઇન્ડેન્ટેશન છબીઓ ગ્રાફ-ટેક્સ્ટ રિપોર્ટ્સ બનાવી શકે છે જે છાપવામાં અથવા સંગ્રહિત કરી શકાય છે.